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DZW-I 电阻温度特性测定仪

简要描述：该仪器采用先进的电子﹑数控技术，用于测试各种导电材料介质（电阻）的阻值随温度变化的值，通过绘制电阻，温度曲线，可以直观地定性分析电阻温度变化率。适用于大专院校电子材料实验室等的研究和各教学演示用

  • 产品型号：DZW-I
  • 产品产地：yh86银河国际
  • 更新时间：2022-09-28 00:00:00
  • 访  问  量：2143

性能特点

技术参数


DZW-I电阻温度特性测定仪

一﹑概述：
该仪器采用先进的电子﹑数控技术，用于测试各种导电材料介质（电阻）的阻值随温度变化的值，通过绘制电阻，温度曲线，可以直观地定性分析电阻温度变化率。适用于大专院校电子材料实验室等的研究和各教学演示用。
二﹑主要技术参数：
1.温度范围：室温～130℃ 

2. 电阻范围：0～1兆欧

3. 加热功率：0～300Ｗ可调

4. 电源：220Ｖ　频率：50Ｈｚ
5. 环境温度：0～40℃ 

6. 环境湿度：≦85
7. 外形尺寸：560x53x400mm

DZW-I电阻温度特性测定仪

一﹑概述：
该仪器采用先进的电子﹑数控技术，用于测试各种导电材料介质（电阻）的阻值随温度变化的值，通过绘制电阻，温度曲线，可以直观地定性分析电阻温度变化率。适用于大专院校电子材料实验室等的研究和各教学演示用。
二﹑主要技术参数：
1.温度范围：室温～130℃ 

2. 电阻范围：0～1兆欧

3. 加热功率：0～300Ｗ可调

4. 电源：220Ｖ　频率：50Ｈｚ
5. 环境温度：0～40℃ 

6. 环境湿度：≦85
7. 外形尺寸：560x53x400mm

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